高/低溫測試

試驗項目簡介

高溫試驗是模擬產品在貯存、裝配和使用過程中的耐高溫狀況而進行的可靠性試驗，高溫試驗也是最長用的加速壽命測試；

低溫試驗是確定產品在低溫環境下貯存和工作的可靠性，包括低溫貯存試驗和低溫工作試驗。

試驗參數

高溫試驗：試驗溫度、試驗時間、升溫速率；

低溫試驗：試驗溫度、試驗時間、降溫速率；

性能影響

高溫試驗：材料熱老化、龜裂、變色、軟化、熔融、膨脹，或功能性失效等；

低溫試驗：材料表面開裂、脆化，元器件電信號飄逸、性能改變、功能波動等；

推薦標準

GB/T 2423.1-2008 / IEC 60068-2-1：2007 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗A：低溫  

GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規范－環境/耐久性 8.4.2低溫喚醒

GJB150.4A-2009 軍用設備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗

GJB150.4-1986 軍用設備環境試驗方法  低溫試驗

GJB4.3-1983 艦船電子設備環境試驗 低溫試驗

GJB367A-2001 軍用通信設備通用規范  A01低溫試驗

MIL-STD-810G-2008 環境工程考慮與實驗室試驗 第二部分：502.5低溫

GJB4.4-1983艦船電子設備環境試驗 低溫貯存試驗

ISO16750-4-2010  道路車輛 - 電氣和電子設備的環境條件和試驗第4部分:氣候負荷 5.1.1低溫試驗

GB/T 28046.4-2011道路車輛電氣及電子設備的環境條件和試驗第4部分：氣候負荷 5.1.1低溫試驗

VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗項目、試驗條件和試驗要求9.1高溫/低溫存放 9.3低溫工作

GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2：2007-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫

VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗項目、試驗條件和試驗要求 9.1高溫/低溫存放  11.2高溫耐久壽命試驗

GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規范－環境/耐久性 9.4.1高溫老化

GJB 150.3A-2009軍用設備實驗室環境試驗方法 第4部分:高溫試驗

GJB4.2-1983 艦船電子設備環境試驗 高溫試驗

GJB150.3-1986 軍用設備環境試驗方法 高溫試驗

GJB367A-2001 軍用通信設備通用規范  A02高溫試驗

GJB360A－1996 電子及電氣元件試驗方法 方法108 高溫壽命試驗

GJB360B－2009 電子及電氣元件試驗方法 方法108 高溫壽命試驗

MIL-STD-810G-2008 環境工程考慮與實驗室試驗 第二部分 501.5高溫

ISO16750-4-2010 道路車輛-電氣和電子設備的環境條件和試驗第4部分:氣候負荷 5.1.2高溫試驗                   

GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子設備的環境條件和試驗 第4部分:氣候負荷5.1.2高溫試驗

GB/T 2423.22-2012 /IEC 60068-2-14-2009環境試驗 第2-14部分：試驗 試驗N：溫度變化   

GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規范-環境/耐久性 9.4.3 PTC帶電溫度循環 6.9端子的溫度循環

RTCA-DO-160G：2010 機載設備的環境條件和測試程序  5溫度變化

ISO16750-4-2010道路車輛 - 電氣和電子設備的環境條件和試驗 第4部分:氣候負荷 5.2 溫度變化  5.3 溫度循環                   

GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子裝設備的環境條件和試驗 第4部分:氣候負荷 5.2 溫度梯度  5.3 溫度循環

VW80000  3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗項目、試驗條件和試驗要求9.2梯度溫度試驗  

JIS C 0025-1988  基本環境試驗程序 第2部分：溫度變化法

JESD22-A104C-2005  試驗方法A104C 溫度循環

GJB548B-2005  微電子器件試驗方法和程序 方法 1010.1 溫度循環

GJB128A-1997  半導體分立器件試驗方法 方法1051 溫度循環（空氣－空氣）